Gaya APA

HKI, P, P, T, D. (2014). Indeks Hasil Paten Mapping Klaster Industri Elektronika dan Telematika . jakarta: Badan Pengkajian Kebijakan IKlim, dan Mutu Industri.

Gaya MLA

HKI, Pusat, Pengkajian, Teknologi, Dan. "Indeks Hasil Paten Mapping Klaster Industri Elektronika dan Telematika". jakarta: Badan Pengkajian Kebijakan IKlim, dan Mutu Industri, 2014. Text.